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光焱(yàn)量子科技(jì)激光(guāng)掃(sǎo)描缺(quē)陷(xiàn)測繪係(xì)統激光(guāng)掃描(miáo)缺陷(xiàn)影像(xiàng)儀(yí)，是(shì)激(jī)光束誘導(dǎo)電流測試（LBIC）的(dí)升級版，利用波長能量大於(yú)半(bàn)導(dǎo)體能隙大(dà)的(dí)激光束，照射在半(bàn)導體(tǐ)後產生的電子-空穴對，通(tōng)過(guò)快速的掃描樣品表麵，獲得影像分(fēn)布(bù)，可以得到內部(bù)電(diàn)流(liú)的變化來了(liǎo)解(jiě)分(fēn)析各種的缺陷分布(bù)，幫助(zhù)分析(xī)樣品製(zhì)備質(zhì)量(liáng)以及(jí)幫助工藝(yì)改(gǎi)進。
光焱量(liáng)子科技太(tài)陽光(guāng)模(mó)擬(nǐ)器SS-F5-3A為(wéi)太(tài)陽能模擬器，用以(yǐ)測(cè)量(liáng)太陽能(néng)電池效(xiào)率，其光斑大(dà)小(xiǎo)為(wéi)5 cm x 5 cm或7 cm x 7 cm。采(cǎi)光纖導(dǎo)光功能，可配合實(shí)驗(yàn)室需求(qiú)，依據場(cháng)所任意移動，並自由調整出光(guāng)方向(xiàng)，便於應用(yòng)各(gè)種領域(yù)，也(yě)可(kě)與(yǔ)手(shǒu)套箱(xiāng)結(jié)合(hé)。
光焱量(liáng)子科技圖像傳(chuán)感器測試係統(tǒng)測試(shì)係統針對(duì)CCD，CMOS，image sensor，相機等(děng)圖像影像(xiàng)傳感(gǎn)器開發(fā)，適合多種(zhǒng)規格的芯(xīn)片(piàn)和(hé)板卡(qiǎ)性能測試(shì)，包括量子(zǐ)效率(shuài)，光譜(pǔ)響應(yīng)，係統增(zēng)益，飽(bǎo)和(hé)照射光(guāng)子數，小可(kě)探測(cè)照射光(guāng)子數(shù)，動態(tài)範圍，暗(àn)電流(liú)，綫性度和綫性誤差，光電響應不(bù)均匀度，暗信號(hào)不(bù)均(jūn)匀(yún)度(dù)，CRA特(tè)性測量。
光焱(yàn)科(kē)技光(guāng)譜(pǔ)響應測試係統(tǒng)IPCE量子效(xiào)率測試(shì)QE-R係(xì)統可以(yǐ)測試晶矽電(diàn)池（Si），非晶(jīng)矽電池(chí)（a-Si），多(duō)結電池(chí)（Tandem），染(rǎn)料(liào)敏化(huà)電池（DSSC），有機電池(chí)（OPV），銅銦镓硒（CIGS），聚(jù)光(guāng)電池（HCPV）等各(gè)種(zhǒng)太(tài)陽能電(diàn)池。
光焱科技QE-R量(liáng)子(zǐ)效率測量係統(tǒng)采(cǎi)用(yòng)了高(gāo)效(xiào)的(dí)橢(tuǒ)圓(yuán)反(fǎn)射器，比傳統(tǒng)的(dí)球形透(tòu)鏡和(hé)反(fǎn)射器(qì)具有更高的集光效率(shuài)。且於60cm x 60cm x 60cm 的主體內集成(chéng)了所(suǒ)有(yǒu)光(guāng)學和機(jī)械部(bù)件(jiàn)，節(jié)省了(liǎo)大(dà)量實驗(yàn)室(shì)空間，但(dàn)仍保(bǎo)持(chí)了(liǎo)各(gè)種(zhǒng)類型的(dí)太(tài)陽能(néng)電池(chí)測試夾(jiā)具的靈(líng)活性。並且(qiě)也提供簡單而完整(zhěng)的手套箱集(jí)成(chéng)方案(àn)。
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