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光(guāng)炎量子(zǐ)效(xiào)率圖(tú)像傳(chuán)感(gǎn)器測(cè)試儀是商用(yòng)CMOS圖像傳感(gǎn)器測試儀，可以(yǐ)提供(gōng)全(quán)麵(miàn)的(dí)CMOS圖(tú)像傳感(gǎn)器參(cān)數(shù)表征。被測設備可(kě)以是幾種(zhǒng)類(lèi)型(xíng)的CMOS圖(tú)像傳(chuán)感(gǎn)器模塊(kuài)。檢驗(yàn)程(chéng)序符合(hé)EMVA 1288標準。因此，可(kě)用於進行(háng)晶圓級光(guāng)學檢(jiǎn)測(cè)，加工(gōng)參數控(kòng)製(zhì)，微透鏡設計，微透鏡驗(yàn)證。SG-A CMOS圖像(xiàng)傳(chuán)感器(qì)測試(shì)儀的(dí)高度準直(zhí)光(guāng)束可(kě)以(yǐ)克服傳統(tǒng)光學係(xì)統（如積分球係(xì)統）無(wú)法(fǎ)解決的新製(zhì)造(zào)工藝的檢測困難(nán)。
光炎量子新(xīn)型太陽能(néng)電池Voc損耗分析儀(yí)光焱科(kē)技(jì)REPS新型(xíng)太(tài)陽能(néng)電池(chí)Voc損耗(hào)分(fēn)析儀是一個完(wán)整的係統，可以(yǐ)幫(bāng)助科(kē)學家測量(liáng)，計(jì)算和(hé)分(fēn)析(xī)工(gōng)作(zuò)中(zhōng)的太陽能電池(chí)中(zhōng)的(dí) Voc-loss，並(bìng)為(wéi)下一步(bù)的(dí)工藝(yì)改(gǎi)進(jìn)提(tí)供(gōng)思(sī)路(lù)。
光(guāng)焱(yàn)量(liáng)子傅立(lì)葉變換光電(diàn)流光譜(pǔ)儀(yí)光(guāng)焱科(kē)技FTPS傅立葉變(biàn)換(huàn)光(guāng)電(diàn)流光譜儀(yí)是(shì)一種(zhǒng)高靈敏度的(dí)光電(diàn)流和外量子效(xiào)率(shuài) （HS-EQE） 光(guāng)譜係(xì)統。直接表(biǎo)征(zhēng)鈣(gài)鈦(tài)礦(kuàng)電池（PSC），有(yǒu)機電池（OSC）開(kāi)路電(diàn)壓(yā)損(sǔn)耗來(lái)源與機製(zhì)，提高投稿(gǎo)期刊檔次與文(wén)章(zhāng)質(zhì)量。
光炎量子效率(shuài)室內環(huán)境光(guāng)模擬器擁(yōng)有(yǒu)3種不同的獨立色(sè)溫光源(yuán)，光(guāng)強可調範圍可由250 Lux至1000 Lux，小(xiǎo)巧的體積方(fāng)便室內規劃(huá)安裝。
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