武漢(hàn)科思特電化學工(gōng)作站
簡(jiǎn)要(yào)描述(shù):武漢科(kē)思特(tè)電(diàn)化(huà)學(xué)工作站:±2A電(diàn)流(liú)範圍(可擴(kuò)展(zhǎn)至5A,20A);±10V電壓(yā)範(fàn)圍(可擴展至(zhì)50V);±21V槽壓範(fàn)圍(可擴展至200V);全(quán)浮地(dì)式(shì)測(cè)量;自(zì)由(yóu)組合測試。
產(chǎn)品型號: CS150H
所屬分類:武漢科(kē)思特(tè)電(diàn)化學工作站
更(gēng)新時間:2024-10-10
廠商性(xìng)質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
| 品牌(pái) | CorrTest/科思特 | 電位精度(dù) | 0.1%×滿量(liáng)程讀(dú)數±1mV |
|---|---|---|---|
| 恒電(diàn)位(wèi)範圍 | ±2.0v | 電流(liú)範(fàn)圍(wéi) | 2nA~2AmA |
| 電(diàn)流精(jīng)度(dù) | 0.1%×滿量程(chéng)讀數 | 產地類別 | 國產(chǎn) |
| 價格區間 | 麵議 | 儀(yí)器(qì)種類 | 電化(huà)學工作站 |
| 應用(yòng)領域 | 醫(yī)療(liáo)衛生(shēng),化(huà)工(gōng),生物(wù)產業(yè),能(néng)源,電子(zǐ)/電(diàn)池 | 恒(héng)電(diàn)位控製範(fàn)圍 | ±10V |
| 電(diàn)位控(kòng)製精度 | 0.1%×滿量程(chéng)讀(dú)數±1mV | 電位(wèi)靈(líng)敏度(dù) | 10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) |
| 電(diàn)位上升時(shí)間(jiān) | ﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 參比電極(jí)輸(shū)入阻抗 | 1012Ω||20pF |
| 槽壓(yā)輸出(chū) | ±21V (可(kě)擴展(zhǎn)至±200V) | CV和LSV掃(sǎo)描(miáo)速度 | 0.001mV~10000V/s |
| CA和CC脈衝寬(kuān)度 | 0.0001~65000s | SWV頻率 | 0.001~100KHz |
| AD數據采集 | 16bit@1MHz,20bit @1KHz | DA分辨(biàn)率 | 16bit |
| 建立(lì)時(shí)間 | 1μS | 通(tōng)訊接口 | USB2.0 |
| 外形尺寸(cm) | 36.4(W)X32.0 (D)X16.0 (H) | 恒電流(liú)控製(zhì)範(fàn)圍(wéi) | ±2.0A |
| 電流控(kòng)製精度 | 0.1%×滿(mǎn)量程讀數(shù) | 電(diàn)流靈(líng)敏(mǐn)度(dù) | 1pA |
| 電(diàn)流量(liáng)程 | 2nA~2A, 共(gòng)10檔(dàng) | 最大輸(shū)出(chū)電流(liú) | 2.0A |
| 電(diàn)流掃描增量(liáng) | 1mA @1A/mS | 電位掃(sǎo)描電(diàn)位增(zēng)量(liáng) | 0.076mV @1V/mS |
| DPV和NPV脈衝寬(kuān)度 | 0.0001~1000s | CV的(dí)最小電位增量(liáng) | 0.075mV |
| 電流(liú)與(yǔ)電位量(liáng)程 | 自(zì)動設置(zhì) | 低通濾波(bō)器(qì) | 8段(duàn)可(kě)編程(chéng) |
| 儀器(qì)重(zhòng)量 | 6.5Kg |
一(yī),產(chǎn)品介紹(shào)
武(wǔ)漢科(kē)思特電化學(xué)工(gōng)作站(zhàn)采(cǎi)用(yòng)全(quán)浮地(dì)式設計(jì),具有出色的(dí)穩定性和度(dù),*硬件(jiàn)和功(gōng)能(néng)*的軟(ruǎn)件,為涉(shè)及能源(yuán),材(cái)料,生命科學,環保等(děng)領(lǐng)域的(dí)科(kē)技工作者(zhě)提供了(liǎo)的科(kē)研平(píng)台。
●應(yīng)用(yòng)
(1)電(diàn)合(hé)成,電沉(chén)積(電鍍(dù)),陽氧化(huà),電解等(děng)反應機理研究;
(2)電(diàn)化(huà)學(xué)分析研(yán)究;
(3)能(néng)源材料(鋰(lǐ)離子(zǐ)電池(chí),太(tài)陽(yáng)能(néng)電池(chí),燃料動力(lì)電(diàn)池(chí)和(hé)超級電(diàn)容器(qì)等),*功能(néng)材料以(yǐ)及(jí)傳感器(qì)的性(xìng)能研(yán)究(jiū);
(4)金屬(shǔ)材(cái)料(liào)的腐蝕行為(wéi)研究與耐蝕(shí)性評(píng)價(jià);
(5)緩(huǎn)蝕(shí)劑,水質穩(wěn)定劑(jì),塗(tú)層以(yǐ)及陰保(bǎo)護效率的(dí)快(kuài)速評(píng)價(jià)。
●硬件(jiàn)特(tè)點
雙通道(dào)相(xiāng)關分析器和雙(shuāng)通道高速16bit/高(gāo)精(jīng)度24bit AD轉(zhuǎn)換(huàn)器
高帶寬高(gāo)輸(shū)入阻(zǔ)抗的(dí)放大器(qì)
內置(zhì)FPGA DDS信號合成(chéng)器(qì)
高(gāo)功(gōng)率恒(héng)電位儀(yí)/恒(héng)電(diàn)流儀/零電阻電流(liú)計
電壓控製(zhì)範(fàn)圍(wéi):±10V,槽(cáo)壓為±21V(可擴展至(zhì)±200V)
電流控(kòng)製(zhì)範圍(wéi):±2.0A(可(kě)擴展至(zhì)20A)
電位(wèi)分(fēn)辨率:10μV,電(diàn)流分辨率:1pA(可延伸至100fA)
●軟(ruǎn)件特(tè)點
①數(shù)據分(fēn)析
伏安曲綫(xiàn)的平(píng)滑(huá),積分和(hé)微分(fēn)運算,計(jì)算(suàn)各氧化(huà)還原峰的峰(fēng)電(diàn)流(liú),峰電位和(hé)峰麵積等(děng);
化曲綫的(dí)三參數或四參(cān)數(shù)動力(lì)學(xué)解(jiě)析(xī),計(jì)算Tafel斜率ba,bc,腐蝕電(diàn)流密度icorr,限(xiàn)擴散電(diàn)流,化電(diàn)阻Rp和腐蝕(shí)速率等(děng),還可由電化(huà)學噪聲(shēng)譜計(jì)算(suàn)功率譜(pǔ)密度,噪(zào)聲電阻(zǔ)Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。
②實時(shí)存(cún)儲(chǔ)
CS Studio實時(shí)存儲測(cè)量(liáng)數據,即使因(yīn)斷電(diàn)導致(zhì)測(cè)試中斷,中斷(duàn)之前的數據(jù)也會(huì)自(zì)動保(bǎo)存。
③定(dìng)時測量(liáng)
CS Studio測(cè)試軟件具有定(dìng)時測量功能,對(duì)於某些需(xū)要(yào)研究(jiū)體係(xì)隨(suí)時間(jiān)變化特征(zhēng)時,可(kě)提前設好(hǎo)測(cè)試(shì)參(cān)數與間隔時間,讓儀(yí)器在無人(rén)值守下自(zì)動定時測量(liáng),為實(shí)驗提供方便。
●技(jì)術優(yōu)勢
①化曲綫
具有(yǒu)綫性(xìng)化和(hé)Tafel化曲綫測量(liáng)功能(néng),用戶(hù)可設定(dìng)循環化曲(qū)綫(xiàn)的陽(yáng)回掃電流(鈍化膜(mó)擊(jī)穿電(diàn)流(liú)),來確(què)定(dìng)材(cái)料(liào)的點(diǎn)蝕電位(wèi)和(hé)保(bǎo)護電(diàn)位,評價(jià)晶(jīng)間腐(fǔ)蝕(shí)敏(mǐn)感(gǎn)性(xìng)。軟件采用非(fēi)綫(xiàn)性擬(nǐ)合(hé)算法解析化曲綫,可用於材料耐(nài)蝕性和緩蝕劑(jì)性(xìng)能的快速評(píng)價。
②伏(fú)安(ān)分(fēn)析
能完成(chéng)綫性(xìng)掃描(miáo)伏安(ān)(LSV),循(xún)環伏(fú)安(ān)(CV),階梯(tī)伏(fú)安(ān)(SCV),方波伏(fú)安(ān)(SWV),差(chà)分(fēn)脈(mài)衝伏(fú)安(DPV),交(jiāo)流伏(fú)安(ACV),溶出伏(fú)安等(děng)多種(zhǒng)電分(fēn)析方法,集成峰麵積,峰電流計(jì)算和(hé)標(biāo)準曲綫分(fēn)析(xī)功能。
③電(diàn)化學(xué)噪聲
采(cǎi)用高(gāo)阻跟隨(suí)器和(hé)零阻電(diàn)流(liú)計(jì)測量(liáng)腐蝕體(tǐ)係自發(fā)的電位(wèi)與電流(liú)波(bō)動,可用(yòng)於(yú)點(diǎn)蝕,電偶(ǒu)腐蝕,縫(féng)隙腐(fǔ)蝕(shí)和(hé)應力腐蝕(shí)開(kāi)裂等(děng)局部(bù)腐(fǔ)蝕(shí)研究(jiū)。通(tōng)過噪聲(shēng)譜(pǔ)分析,可評(píng)估亞穩態蝕(shí)點或裂(liè)紋的誘導,生(shēng)長和死亡過(guò)程。基於噪(zào)聲電阻和點(diǎn)蝕指數(shù)計算,也(yě)可(kě)用於局部腐(fǔ)蝕監測(cè)。
④功(gōng)率(shuài)擴(kuò)展
CS係(xì)列電(diàn)化學(xué)工(gōng)作(zuò)站(zhàn)的(dí)電流(liú)控(kòng)製範圍為±2.0A,槽(cáo)壓(yā)輸出(chū)≥21V,可滿(mǎn)足燃料動(dòng)力(lì)電池(chí),大功(gōng)率電池充放電,電化(huà)學(xué)電(diàn)解或電沉(chén)積(jī)等(děng)領(lǐng)域的需求(qiú)。采用專用(yòng)的功率(shuài)擴展器,大(dà)輸(shū)出電(diàn)流(liú)可達(dá)20A,槽(cáo)壓±200V。
⑤全浮(fú)地(dì)測量
CS係列(liè)電(diàn)化學工(gōng)作站采用全(quán)浮(fú)地(dì)式(shì)工作電(diàn),可(kě)用(yòng)於工(gōng)作電(diàn)本身(shēn)接(jiē)地(dì)體(tǐ)係的電(diàn)化學(xué)研究(jiū),如(rú)用(yòng)於(yú)高(gāo)壓釜電化(huà)學測試(釜體接地(dì)),大地(dì)中金(jīn)屬構(gòu)件(橋梁,混(hùn)凝土(tǔ)鋼筋)的在綫腐蝕研(yán)究等。
⑥光電測(cè)試(shì)模塊
武(wǔ)漢科思特(tè)電化(huà)學(xué)工(gōng)作站可以與(yǔ)光強(qiáng)計(jì),分(fēn)光光度計(jì)聯用,用(yòng)於光電化學(xué)測量,在進行電(diàn)化(huà)學(xué)測量的同時(shí)記錄光(guāng)電(diàn)流(liú)或光(guāng)譜響應信號(hào)。
⑦自(zì)定(dìng)義方(fāng)法(fǎ)
支持用(yòng)戶(hù)自定義組(zǔ)合測量(liáng),用(yòng)戶可以設定定時循環(huán)進(jìn)行(háng)某(mǒu)一(yī)測試方法或(huò)多種(zhǒng)方法(fǎ)的組(zǔ)合測(cè)試(shì),用(yòng)於無人值守下(xià)的定時自動(dòng)測量;
提(tí)供API通用接口(kǒu)函數(shù)和開發實例,方(fāng)便用(yòng)戶二(èr)次開發和自(zì)定義(yì)測試方(fāng)法;
提供用(yòng)戶(hù)自(zì)定義腳(jiǎo)本編(biān)寫範例,用於(yú)實(shí)現您*的電化學實(shí)驗技術(shù)。
二(èr),技術參數
硬件(jiàn)參(cān)數(shù)指標
恒(héng)電(diàn)位控製範圍:±10V | 恒電流控製範圍:±2.0A |
電位(wèi)控製(zhì)精度:0.1%×滿量(liáng)程(chéng)讀數±1mV | 電流控製(zhì)精度(dù):0.1%×滿量(liáng)程(chéng)讀數(shù) |
電(diàn)位靈(líng)敏度(dù):10μV(>100Hz),3μV(<10Hz) | 電(diàn)流(liú)靈敏(mǐn)度(dù):1pA |
電位上升時間(jiān):﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 電流(liú)量程(chéng):2nA~2A,共10檔 |
參(cān)比(bǐ)電輸(shū)入阻抗(kàng):1012Ω||20pF | 大(dà)輸出(chū)電(diàn)流:2.0A |
槽壓(yā)輸出:±21V(可擴展(zhǎn)至(zhì)±200V) | 電流掃描(miáo)增(zēng)量:1mA@1A/mS |
CV和LSV掃(sǎo)描速度:0.001mV~10000V/s | 電位(wèi)掃(sǎo)描電(diàn)位增量:0.076mV@1V/mS |
CA和CC脈(mài)衝寬度:0.0001~65000s | DPV和NPV脈衝(chōng)寬(kuān)度:0.0001~1000s |
SWV頻(pín)率(shuài):0.001~100KHz | CV的(dí)小(xiǎo)電位(wèi)增量:0.075mV |
AD數(shù)據采(cǎi)集:16bit@1MHz,20bit@1KHz | 電流(liú)與電位量程(chéng):自(zì)動設置 |
DA分(fēn)辨(biàn)率:16bit,建立(lì)時間:1μS | 低通(tōng)濾(lǜ)波(bō)器(qì):8段(duàn)可編(biān)程 |
通訊接(jiē)口:USB2.0 | 儀器重量:6.5Kg |
外形(xíng)尺(chǐ)寸(cùn)(cm):36.4(W)X32.0(D)X16.0(H) |
配置:
1)儀器(qì)主機(jī)1台
2)CS Studio測(cè)試(shì)與(yǔ)分析軟(ruǎn)件1套(tào)
3)模(mó)擬電解(jiě)池(chí)1個(gè)
4)電源(yuán)綫/USB數據綫各(gè)1條
5)電(diàn)電纜(lǎn)綫1條
6)電腦(選(xuǎn)配*)
三,功能(néng)方法(fǎ)
CS單通(tōng)道係列(liè)不(bù)同(tóng)型(xíng)號(hào)功能(néng)方(fāng)法比較(jiào)
功能(néng)方(fāng)法(fǎ) | CS150H | CS300H | CS310H | CS350H | |
穩態化(huà) | 開(kāi)路(lù)電位(wèi)(OCP) | ● | ● | ● | ● |
恒電位化(huà)(i-t曲綫) | ● | ● | ● | ● | |
恒電流化 | ● | ● | ● | ● | |
動(dòng)電位(wèi)掃(sǎo)描(miáo)(Tafel曲綫(xiàn)) | ● | ● | ● | ● | |
動電流掃描(miáo)(DGP) | ● | ● | ● | ● | |
電位(wèi)掃(sǎo)描-階躍 | ● | ||||
暫(zàn)態化(huà) | 任意(yì)恒(héng)電位階(jiē)梯(tī)波 | ● | ● | ● | ● |
任(rèn)意(yì)恒電流(liú)階梯波 | ● | ● | ● | ● | |
恒電位(wèi)階(jiē)躍(yuè)(VSTEP) | ● | ● | ● | ● | |
恒電(diàn)流階躍(yuè)(ISTEP) | ● | ● | ● | ● | |
計時分析 | 計(jì)時(shí)電位法(CP) | ● | ● | ● | |
計時(shí)電流法(CA) | ● | ● | ● | ||
計時電(diàn)量(liáng)法(CC) | ● | ● | ● | ||
伏(fú)安分析(xī) | 綫(xiàn)性(xìng)掃(sǎo)描(miáo)伏(fú)安(ān)(LSV) | ● | ● | ● | ● |
綫性(xìng)循(xún)環伏(fú)安(CV) | ● | ● | ● | ● | |
階梯循環伏安(SCV) | ● | ● | |||
方波(bō)伏安(SWV) | ● | ● | |||
差分脈(mài)衝(chōng)伏安(DPV) | ● | ● | |||
常(cháng)規脈衝(chōng)伏(fú)安(ān)(NPV) | ● | ● | |||
差分常規(guī)脈(mài)衝伏安(ān)(DNPV) | ● | ● | |||
交流伏安(ACV) | ● | ● | |||
二(èr)次諧波(bō)交流(liú)伏(fú)安(SHACV) | ● | ● | |||
傅裏葉變(biàn)換交流(liú)伏安(FTACV) | ● | ● | |||
電(diàn)流檢測(cè) | 差分脈衝(chōng)電流檢測(DPA) | ● | |||
雙差分(fēn)脈(mài)衝電流(liú)檢測(cè)(DDPA) | ● | ||||
三脈(mài)衝(chōng)電流檢(jiǎn)測(TPA) | ● | ||||
積(jī)分脈衝電(diàn)流(liú)檢測(cè)(IPAD) | ● | ||||
溶出伏安(ān) | 電位溶(róng)出分析(PSA) | ● | ● | ||
綫(xiàn)性(xìng)掃描溶出(chū)伏安(LSSV) | ● | ● | |||
階梯溶(róng)出伏安(SCSV) | ● | ● | |||
方波(bō)溶(róng)出(chū)伏安(SWSV) | ● | ● | |||
差(chà)分脈衝溶出(chū)伏(fú)安(DPSV) | ● | ● | |||
常(cháng)規脈衝溶出(chū)伏安(ān)(NPSV) | ● | ● | |||
差(chà)分常(cháng)規(guī)脈衝溶出伏(fú)安(DNPSV) | ● | ● | |||
交流(liú)阻抗 | 阻抗-頻(pín)率(shuài)掃描 | ● | ● | ||
阻(zǔ)抗-時(shí)間掃描(miáo) | ● | ● | |||
阻(zǔ)抗(kàng)-電位掃描(miáo)(Mott-Schottky曲(qū)綫) | ● | ● | |||
充放電(diàn)測試 | 電(diàn)池充放(fàng)電 | ● | ● | ● | ● |
恒電流充放電(GCD) | ● | ● | ● | ● | |
恒(héng)電位充(chōng)放電 | ● | ● | ● | ● | |
恒電位(wèi)間歇滴定技(jì)術(shù)(PITT) | ● | ● | ● | ● | |
恒電(diàn)流間(jiān)歇(xiē)滴定(dìng)技(jì)術(GITT) | ● | ● | ● | ● | |
雙恒測(cè)量 | 氫擴散測試(HDT) | ||||
盤環電測試(shì) | |||||
擴展測量 | 電化學(xué)噪聲(EN) | ● | ● | ● | ● |
數字記(jì)錄儀 | ● | ● | ● | ● | |
電化學溶解/沉積 | ● | ● | ● | ● | |
控製電位(wèi)電解(jiě)庫倫法(BE) | ● | ● | ● | ● | |
動電位(wèi)再活化法(EPR) | ● | ● | ● | ● | |
溶液電阻測量(liáng) | ● | ● | ● | ● | |
循環化曲(qū)綫(CPP) | ● | ● | ● | ● | |
注:
*氫擴散(sàn)及(jí)旋轉(zhuǎn)盤(pán)環電測試需配(pèi)置(zhì)CS1002恒(héng)電位/恒電流(liú)儀(yí)或(huò)采(cǎi)用(yòng)CS2350雙恒(héng)電(diàn)位儀。
*光電(diàn)測(cè)量(liáng)功能(néng)用戶(hù)選配。
*產品3年質保。
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