高(gāo)低(dī)溫真(zhēn)空(kōng)磁場探(tàn)針(zhēn)台是(shì)具(jù)備(bèi)提(tí)供(gōng)高(gāo)低溫，真空以及(jí)磁場環境的(dí)高精(jīng)度實驗(yàn)台(tái)，它的諸多設計都(dū)是專(zhuān)用(yòng)的。因(yīn)此(cǐ)，高(gāo)低(dī)溫(wēn)磁場探(tàn)針(zhēn)台(tái)的配置主(zhǔ)要(yào)是根據用(yòng)戶(hù)的(dí)需(xū)求(qiú)進(jìn)行選配及(jí)設計(jì)。例(lì)如，要(yào)求(qiú)的磁(cí)場值，均匀區大(dà)小(xiǎo)，均匀度大(dà)小，樣品(pǐn)台(tái)的(dí)尺(chǐ)寸等，均於(yú)磁力綫在一定(dìng)區域(yù)內產(chǎn)生的(dí)磁(cí)通(tōng)密(mì)度相(xiāng)關聯(lián)；位移台還(huán)可與磁流(liú)體密(mì)封(fēng)搭配，實現(xiàn)水平方(fāng)向二維移動(dòng)和樣(yàng)品(pǐn)台(tái)360度(dù)轉(zhuǎn)動(dòng)；除此之(zhī)外，該探(tàn)針台和高精度雙(shuāng)性恒流(liú)電源搭(dā)配使(shǐ)用戶(hù)，可以磁場的(dí)高(gāo)穩定性。因(yīn)此，該類(lèi)型的探針台主要依據(jù)客戶的(dí)使用情況(kuàng)進(jìn)行設(shè)計優化。

高低(dī)溫真(zhēn)空(kōng)磁(cí)場(cháng)探針台(tái)探(tàn)針台(tái)配備(bèi)4個（可選(xuǎn)6個或(huò)8個）擁(yōng)有高精(jīng)度位移的探(tàn)針(zhēn)臂，同(tóng)時配有高(gāo)精度電子顯(xiǎn)微鏡(jìng)，便於微(wēi)小樣(yàng)品的觀(guān)察操(cāo)作。探針(zhēn)可通過(guò)直(zhí)流(liú)或者低(dī)頻(pín)交流(liú)信號(hào)，用(yòng)來(lái)測(cè)試芯片，晶圓片(piàn)，封裝器件(jiàn)等(děng)，廣泛(fàn)應(yīng)用於半導體工業，MEMS ，超導，電(diàn)子學(xué)，鐵(tiě)電子學(xué)，物(wù)理學，材(cái)料學(xué)和(hé)生(shēng)物醫學(xué)等(děng)領(lǐng)域。 

應(yīng)用(yòng)範(fàn)圍：

磁特(tè)性(xìng)測試(shì)，微(wēi)波特性測試，直(zhí)流(liú)，RF特性測試，微電(diàn)子(zǐ)機械係(xì)統，超(chāo)導(dǎo)電性測(cè)試(shì)，納(nà)米電(diàn)路的光電屬性(xìng)，量子點和(hé)綫，高低(dī)溫真(zhēn)空環境下的芯(xīn)片測試，材料測試(shì)，霍(huò)爾(ěr)測試，電磁輸運特(tè)性等。

 可選(xuǎn)附(fù)件：

þ 各類(lèi)DC探(tàn)針，高頻探針，主動式探(tàn)針(zhēn)，電纜綫

þ CCD或C-MOS視頻(pín)成像裝(zhuāng)置

þ Chuck運(yùn)動(dòng)裝(zhuāng)置(zhì)

þ 電(diàn)磁鐵係統/超(chāo)導磁(cí)鐵係(xì)統

þ 1Mpa正壓係統升級

þ 超高溫升(shēng)級(jí)選件(jiàn)

þ 超高真空(kōng)升級選(xuǎn)件

þ 各類探(tàn)針夾具

þ 屏蔽(bì)箱

þ 防(fáng)振(zhèn)桌(zhuō)

þ 轉接頭

þ 靜(jìng)音真空泵

技術指標(biāo)：