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上海(hǎi)辰(chén)華(huá)CHI200B微電(diàn)流放(fàng)大(dà)器及屏(píng)蔽箱(xiāng)與 600A/B/C/D/E，700B/C/D /E和 800B/C /D係(xì) 列(liè) 的 儀 器(qì) 相(xiāng) 連(lián) 接 ， 可 測(cè) 量 1 pA 或(huò) 更(gēng) 低 的 電(diàn) 流 。
雙恒電位儀(yí)是(shì)一種用於測(cè)量電位差的(dí)儀(yí)器。它(tā)由兩(liǎng)個(gè)參考電(diàn)極(jí)和(hé)一個測量(liáng)電極組成。參(cān)考電(diàn)極有(yǒu)穩定的電勢，常(cháng)用的(dí)是銀(yín)/氯(lǜ)化銀電極或(huò)飽(bǎo)和(hé)甘(gān)汞電極。測量(liáng)電(diàn)極用(yòng)於(yú)接觸被(bèi)測體(tǐ)並測量其電勢(shì)。
上海辰(chén)華(huá)CHI1100C大功率(shuài)恒電(diàn)位(wèi)儀(yí)/恒電流儀主 要 用(yòng) 於(yú) 需(xū) 要(yào) 較(jiào) 大 電(diàn) 流 和 較(jiào) 高 槽(cáo) 壓(yā) 的 電 化 學 測(cè) 量(liáng) 和 應 用 ， 例 如 電 池 ， 腐(fǔ) 蝕(shí) ， 電 解(jiě) ， 電 鍍(dù) 等(děng) 。 儀 器 由 數(shù) 字(zì) 信(xìn) 號 發 生 器(qì) ， 數(shù) 據 采 集(jí) 係 統 ， 和 恒(héng) 電 位(wèi) 儀(yí) / 恒 電 流 儀(yí) 組 成(chéng) 。 儀 器 的(dí) 電 流(liú) 範(fàn) 圍 為(wéi)±2 A， 槽 壓(yā) 為 ±25 V。
上海(hǎi)辰華CHI400C是CH Instruments與武(wǔ)漢大學(xué)合作的產品。石英晶(jīng)體微(wēi)天(tiān)平(QCM)可(kě)進(jìn)行靈敏的質(zhì)量測量。在(zài)適當(dāng)的條(tiáo)件下，上(shàng)海辰華CHI400C係列電化(huà)學石英晶(jīng)體(tǐ)微天(tiān)平石英晶體上沉(chén)積的(dí)質量變化(huà)和(hé)振動頻率移(yí)動之間關係(xì)呈(chéng)簡(jiǎn)單(dān)的綫(xiàn)性(xìng)關係(Sauerbrey公式(shì))：
上(shàng)海(hǎi)辰(chén)華CHI900D/920D掃(sǎo)描(miáo)電化(huà)學(xué)顯(xiǎn)微(wēi)鏡(jìng)與掃描(miáo)隧道顯微(wēi)鏡(STM)的工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)類似。但(dàn)SECM測(cè)量的不是隧(suì)道電流(liú)，而是由化(huà)學(xué)物質(zhì)氧化或(huò)還原給(gěi)出(chū)的(dí)電化(huà)學(xué)電流。盡管SECM的(dí)分(fēn)辨(biàn)率較STM低，但(dàn)SECM的(dí)樣品(pǐn)可(kě)以是導(dǎo)體(tǐ)，絕緣體(tǐ)或(huò)半導體，而STM隻限於導體表(biǎo)麵(miàn)的測量(liáng)。SECM除(chú)了能(néng)給出樣品表麵的(dí)地形地貌外(wài)，還能提供豐(fēng)富(fù)的化(huà)學信息。其可(kě)觀察表麵的範圍也(yě)大得多。
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