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光焱科技新(xīn)推(tuī)出光炎(yán)量子效率光(guāng)傳(chuán)感器(qì)特性分析(xī)儀(yí)PD-QE測(cè)試係(xì)統(tǒng)，針對(duì)第(dì)三代半導體材料(liào)Photodiode/Photodetector的相(xiāng)關特性測(cè)試，整(zhěng)合新(xīn)高精密(mì)直流(liú)可耐電壓(yā)偵測技術(shù)，與傳統交流(liú)模式(shì)下測量(liáng)EQE使(shǐ)用鎖(suǒ)相放(fàng)大器，電壓無(wú)法加過(guò)12V相比(bǐ)，該(gāi)係統(tǒng)高(gāo)可(kě)輸出1000V高(gāo)壓(yā)，電流(liú)量程為2pA，精(jīng)度(dù)達0.1fA，可滿足(zú)客戶多種(zhǒng)量測(cè)需求。
SG-O光(guāng)炎量(liáng)子效率分析儀光(guāng)傳感器晶(jīng)圓測(cè)試儀(yí)是一(yī)款(kuǎn)CIS/ALS/Light-Sensor晶圓測(cè)試儀，它結合了(liǎo)高度均(jūn)匀(yún)的(dí)光源和半(bàn)自(zì)動晶圓探測(cè)器(qì)。
光(guāng)炎量(liáng)子(zǐ)效(xiào)率(shuài)分(fēn)析儀(yí)圖像(xiàng)傳(chuán)感器測試儀(yí)是一(yī)個(gè)商用 CMOS 圖像(xiàng)傳感器測試(shì)儀(yí)。SG-A可以提供*的(dí) CMOS 圖像(xiàng)傳(chuán)感器(qì)參(cān)數表(biǎo)征(zhēng)，如(rú)全(quán)光譜量(liáng)子效率 QE，整體係統(tǒng)增益(yì) K，時間(jiān)性(xìng)暗噪聲，信噪(zào)比(bǐ)，靈(líng)敏度(dù)閾(yù)值，飽和(hé)容量(liáng)，動(dòng)態範圍，DSNU，PRNU，綫(xiàn)性(xìng)誤差和射(shè)綫(xiàn)角(jiǎo) CRA。
泊菲萊(lái)離綫(xiàn)光(guāng)催(cuī)化反(fǎn)應器，光(guāng)窗(chuāng)可選擇石(shí)英平(píng)板或者(zhě)石英(yīng)水(shuǐ)套(tào)，材(cái)質(zhì)為(wéi)JGS-2石英材質。可用於(yú)液(yè)固相光降解反應等。反(fǎn)應(yīng)過(guò)程(chéng)中(zhōng)，反應器(qì)具有取樣(yàng)口，可(kě)手動取液(yè)樣用於(yú)檢測。
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