您的(dí)位置(zhì)：光(guāng)炎量子效率分析儀(yí)圖(tú)像傳(chuán)感器(qì)測(cè)試儀(yí)
簡要(yào)描述(shù)：光炎(yán)量子效(xiào)率分析(xī)儀圖(tú)像傳(chuán)感(gǎn)器(qì)測(cè)試儀(yí)是一(yī)個(gè)商用(yòng) CMOS 圖(tú)像傳(chuán)感(gǎn)器(qì)測試儀。SG-A可(kě)以提供(gōng)*的(dí) CMOS 圖(tú)像傳感器參(cān)數(shù)表征，如全光譜量(liáng)子效率(shuài) QE，整體係(xì)統增(zēng)益 K，時間性暗(àn)噪聲(shēng)，信(xìn)噪(zào)比，靈敏(mǐn)度閾(yù)值(zhí)，飽(bǎo)和容(róng)量(liáng)，動態(tài)範(fàn)圍(wéi)，DSNU，PRNU，綫性(xìng)誤(wù)差和射綫(xiàn)角(jiǎo) CRA。
產(chǎn)品型號： SG-A
所(suǒ)屬(shǔ)分(fēn)類：光(guāng)焱量(liáng)子效(xiào)率測(cè)量(liáng)係(xì)統(tǒng)
更新時(shí)間(jiān)：2024-10-10
廠(chǎng)商(shāng)性(xìng)質：經銷(xiāo)商(shāng)
| 品牌(pái) | 其(qí)他(tā)品(pǐn)牌 | 應用(yòng)領(lǐng)域 | 醫(yī)療(liáo)衛生(shēng),化(huà)工,生(shēng)物產業(yè),能源(yuán),電子/電(diàn)池(chí) |
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快(kuài)速(sù)安裝(zhuāng)和(hé)快(kuài)速部署可以幫(bāng)助您加(jiā)快上市時(shí)間(jiān)
SG-A光炎量子效(xiào)率分(fēn)析儀(yí)圖像(xiàng)傳感(gǎn)器測試儀是一個商用CMOS圖(tú)像(xiàng)傳感(gǎn)器(qì)測(cè)試儀(yí)。SG-A可(kě)以提(tí)供*的(dí)CMOS圖像傳感器參數(shù)表(biǎo)征(zhēng)，如全光譜(pǔ)量(liáng)子效率QE，整體係統(tǒng)增益K，時間性暗噪(zào)聲(shēng)，信噪比(bǐ)，靈敏度閾值(zhí)，飽(bǎo)和容量，動(dòng)態範圍(wéi)，DSNU，PRNU，綫性誤差(chà)和射(shè)綫(xiàn)角CRA。被測設(shè)備可以是(shì)幾種(zhǒng)類型的CMOS圖像傳感器(qì)模(mó)塊(kuài)。檢驗(yàn)程(chéng)序符合(hé) EMVA 1288 標準(zhǔn)。因此，SG-A CMOS圖(tú)像(xiàng)傳(chuán)感器測試儀可用於(yú)進行(háng)晶(jīng)圓級(jí)光(guāng)學檢(jiǎn)測，加(jiā)工參(cān)數(shù)控製，微(wēi)透鏡(jìng)設計(jì)，微(wēi)透鏡(jìng)驗證。SG-A CMOS圖像傳(chuán)感器(qì)測(cè)試儀的高度(dù)準直(zhí)光(guāng)束（<1°）可以克服(fú)傳統光學(xué)係統(tǒng)（如(rú)積(jī)分球(qiú)係(xì)統）無(wú)法(fǎ)解(jiě)決(jué)的新製(zhì)造(zào)工藝的檢測困(kùn)難。這(zhè)些工藝包括小(xiǎo)像素(sù)（<1um），BSI和3D堆疊，微(wēi)透鏡(jìng)，新(xīn)的(dí)拜(bài)耳陣(zhèn)列設計(jì)等等(děng)。
SG-A光(guāng)炎(yán)量(liáng)子(zǐ)效率分(fēn)析儀圖像傳(chuán)感(gǎn)器測(cè)試(shì)儀特色：
無損(sǔn)光學(xué)檢(jiǎn)測。
高(gāo)度(dù)準(zhǔn)直梁角/高(gāo)準直波束(shù)角(jiǎo)<0.05度，<0.1度，<0.5度，<1度(dù)，<3度(不(bù)同型號)
高均(jūn)匀(yún)光(guāng)束點(diǎn)≥99%。
光(guāng)的(dí)不(bù)穩定性≤1%。
高動(dòng)態範圍(wéi)測(cè)試(shì)能力(lì)：80dB~140dB（不同(tóng)型號）。
可(kě)以測(cè)試CMOS圖像傳(chuán)感(gǎn)器(qì)參(cān)數。量(liáng)子(zǐ)效(xiào)率(shuài)，光譜(pǔ)響應(yīng)，係統增(zēng)益(yì)，靈(líng)敏(mǐn)度，動態範圍(wéi)，暗電流/噪(zào)聲，信噪(zào)比，飽(bǎo)和容量，綫性誤(wù)差（LE），DCNU（暗(àn)電(diàn)流不均匀性(xìng)），PRNU（光響應(yīng)不(bù)均(jūn)匀性），CRA（射綫角(jiǎo)）。
全光(guāng)譜波(bō)長範圍：300nm–1100nm或350nm~1000nm（PTC）。
波(bō)長可(kě)擴展至(zhì)1700納米以上(shàng)。
DUT封裝(zhuāng)：CIS模塊，PCB板級，CIS攝像頭(tóu)，有(yǒu)/無(wú)微(wēi)透(tòu)鏡。
SG-A和(hé)DUT之(zhī)間的(dí)“直接“或“握(wò)手“通(tōng)信協(xié)議。
定製的測試(shì)夾(jiā)具和平台(tái)（手動或自動(dòng)，多(duō)6軸）。
*的分析軟(ruǎn)件ARGUS®。
應用(yòng)：指(zhǐ)紋(wén)識別（CIS+鏡頭，CIS+準直(zhí)器(qì)，TFT陣列傳(chuán)感器）CIS的(dí)微透(tòu)鏡(jìng)設(shè)計，晶圓級(jí)光(guāng)學檢(jiǎn)測，CIS DSP芯片算(suàn)法開(kāi)發(fā)，Si TFT傳(chuán)感器(qì)麵(miàn)板(bǎn)，飛行時間(jiān)相機傳(chuán)感器，接近傳感器(qì)（量(liáng)子效率，靈敏度，綫性度(dù)，SNR等(děng)），d-ToF傳感器(qì)，i-ToF傳感器，多光譜(pǔ)傳感器，環境(jìng)光傳感器（ALS），指(zhǐ)紋顯示(shì)（FoD）傳(chuán)感器(qì)。
規(guī)格：
SG-A型(xíng)CMOS圖(tú)像傳感器測(cè)試(shì)儀(yí)的(dí)功(gōng)能(néng)非(fēi)常*，因(yīn)此(cǐ)相關的規(guī)格(gé)和配件(jiàn)也非常(cháng)齊全(quán)。請與我們聯(lián)係，以了(liǎo)解更(gēng)多(duō)細節和選擇咨(zī)詢,以下(xià)是主(zhǔ)要(yào)的能力規格：
–全(quán)光譜的(dí)波長(cháng)範(fàn)圍：300–1100納米或(huò)350–1000納米（PTC）。
–波長(cháng)範(fàn)圍可(kě)以擴(kuò)展到(dào)1700納(nà)米或(huò)更高。
–單一(yī)波長源。470納(nà)米,530納米,630納(nà)米,940納米（±5納(nà)米）或自定義。
–動(dòng)態(tài)範(fàn)圍(wéi)：80dB，100dB或140dB。
–測試夾具：DUT≤100mmx100mmx30mm(高度(dù))[基本型]或(huò)訂製。
–平(píng)台：無(wú)，手(shǒu)動3軸(zhóu)或6軸（手動+自動）平台（可訂(dìng)製)
應(yīng)用範圍：
指(zhǐ)紋識別(bié)（CIS+鏡頭(tóu)，CIS+準(zhǔn)直器，TFT-陣列(liè)傳(chuán)感器)
CIS的(dí)微透(tòu)鏡(jìng)設計(jì)，晶(jīng)圓級光學(xué)檢查(chá)
CIS DSP芯(xīn)片(piàn)的(dí)算法開發
Si TFT傳感器麵(miàn)板
飛(fēi)行(háng)時間相(xiāng)機(jī)傳感(gǎn)器(qì)
近距離感應器(qì)(量子(zǐ)效率，靈敏度(dù)，綫(xiàn)性度(dù)，SNR等(děng))
d-ToF傳感器(qì)，i-ToF傳感器
多(duō)光(guāng)譜(pǔ)傳(chuán)感器
環境光傳感器(ALS)
指紋顯示（FoD）傳感器(qì)
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